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本文標題:偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體

信息分類:站內新聞 新聞來源:未知 發布時間:2015-11-23 16:53:43
偏光顯微鏡觀測物體的時候使用正交檢偏位屬于雙折射體

   一般情況下,使用正交檢偏位下進行試樣的觀測的話,
使用的都是雙折射體進行的,這樣的檢測會出現不同的
效果,如下說說不同的情況,

   首先,如果是在正交檢偏位對試樣進行觀測的話,其視
場中不會看到單折射體進行物體的觀測,檢測的物體中都
是雙折射體,這樣就可以在觀測中看到物體所發出的光,

   雙折射體觀測的物體都是正交檢偏位下進行的,使用的
載物臺也是旋轉的,雙折射體的成像是需要進行360度的
旋轉的,這樣就會形成很鮮明的明暗對比,

   每一次變化的旋轉的度數是在90度,這樣就會出現變暗
的位置,稱這樣的位置為消光,然后在此位置上進行45度的
旋轉,就會出現試樣的最亮位置,稱這樣的位置為對角位置。

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本文出自上海永亨光學儀器有限公司,本文地址:http://www.365wg.cn/xinwen/1961.html  
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