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本文標(biāo)題:顯微檢測(cè)晶體表面的突起產(chǎn)生的原因

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞　新聞來(lái)源：未知發(fā)布時(shí)間：2015-10-21 11:08:42

顯微檢測(cè)晶體表面的突起產(chǎn)生的原因

通常情況下我們對(duì)于晶體物質(zhì)表面上凹凸不平的一個(gè)

比較粗糙的晶體表面進(jìn)行顯微檢測(cè)時(shí)，光通過(guò)晶體凹

凸不平的表面時(shí)產(chǎn)生的折射率不相同。

在這樣的情況下就說(shuō)明了晶體物質(zhì)表面上有突起，而

這種晶體物質(zhì)突起則是一種晶體的折射率的不同，而

不同的折射率則代表頭上不同的折射率。

因此通常我們?cè)谑褂闷怙@微鏡進(jìn)行顯微檢測(cè)時(shí)，對(duì)

于晶體物質(zhì)表面光能在偏振表面上產(chǎn)生晶體突起的原

因，則是由于晶體和空氣中的折射率相差不大的情況

下產(chǎn)生一個(gè)比較大的折射。

因此在這種情況下晶體物質(zhì)表面底面的點(diǎn)就會(huì)比原來(lái)

晶質(zhì)表面的位置要高，就時(shí)光通過(guò)晶體表面時(shí)光線(xiàn)就

會(huì)產(chǎn)生一個(gè)比較大的折射率。

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