本文標(biāo)題:光學(xué)顯微鏡在金相試樣中的檢測(cè)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-5-13 16:27:30
光學(xué)顯微鏡在金相試樣中的檢測(cè)
光學(xué)顯微鏡是金相試驗(yàn)中的最重要的也是最基本
的測(cè)試儀器
雖然現(xiàn)在已經(jīng)有不少電子金相設(shè)備如透射電子顯
微鏡和掃描電子顯微鏡。
它們彌補(bǔ)了光學(xué)顯微鏡在分辨率和景深兩個(gè)方面
的不足，但是光學(xué)顯微鏡也具備電子顯微鏡所沒
有的優(yōu)點(diǎn)。
光學(xué)顯微技術(shù)和電子顯微技術(shù)是互為補(bǔ)充的，而
且光學(xué)顯微鏡仍然是金相試驗(yàn)中的最基本的測(cè)試
儀器。
光和波動(dòng)性和雙重性質(zhì)在解釋透鏡的像差時(shí)把光
看作是粒子流就很合適基礎(chǔ)。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://www.365wg.cn/xinwen/1574.html
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